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激光噴霧粒度儀是一種基于激光散射原理的高精度測(cè)量設(shè)備，專門用于分析噴霧、氣霧劑、粉霧劑等微小顆粒的尺寸分布及動(dòng)態(tài)特性。其核心原理是當(dāng)激光束照射到噴霧顆粒時(shí)，顆粒會(huì)對(duì)入射光產(chǎn)生散射作用，散射光的強(qiáng)度及角度分布與顆粒粒徑直接相關(guān)——大顆粒散射光角度小、信號(hào)強(qiáng)，小顆粒則相反。通過測(cè)量散射光的角度分布與強(qiáng)度，并結(jié)合Mie理論或Fraunhofer衍射模型（適用于5μm顆粒），儀器可反算出顆粒的粒徑分布。該儀器具備顯著的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：測(cè)量范圍廣，可覆蓋0.1μm至30000μm的粒徑，滿足...

X射線熒光光譜儀是一種基于X射線激發(fā)原理的非破壞性分析儀器，通過測(cè)量物質(zhì)受激發(fā)后產(chǎn)生的特征X射線熒光，實(shí)現(xiàn)元素定性與定量分析。其核心原理為：高能X射線或伽馬射線轟擊樣品時(shí)，樣品中原子內(nèi)層電子被擊出，形成空穴，外層電子躍遷填補(bǔ)空穴時(shí)釋放特征X射線。不同元素的特征X射線具有特定能量或波長(zhǎng)，探測(cè)器捕獲這些信號(hào)后，儀器軟件將其轉(zhuǎn)化為元素種類及含量信息。X射線熒光光譜儀其主要技術(shù)特點(diǎn)如下：1、分析速度快，效率高XRF分析過程非常迅速，通常在10秒到幾分鐘內(nèi)即可完成對(duì)樣品中多種元素的同時(shí)...

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納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術(shù)的高精度物理性能測(cè)試儀器，通過追蹤納米顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)和光散射特性，實(shí)現(xiàn)粒徑、濃度及Zeta電位等多參數(shù)同步測(cè)量，廣泛應(yīng)用于生物醫(yī)藥、材料科學(xué)、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域。技術(shù)原理：NTA技術(shù)結(jié)合激光散射與視頻顯微技術(shù)，利用納米顆粒在液體中的布朗運(yùn)動(dòng)特性進(jìn)行表征。激光束照射樣品池后，顆粒散射的光被顯微鏡捕捉，高速攝像頭（如CMOS傳感器）以每秒30幀的頻率記錄顆粒運(yùn)動(dòng)軌跡。通過分析擴(kuò)散系數(shù)并結(jié)合斯托克斯-愛因斯坦方程，可計(jì)算出顆粒的...

激光粒度分布儀是一種利用激光散射原理測(cè)量顆粒大小分布的精密儀器，其核心原理基于米氏散射理論（MieScatteringTheory）——當(dāng)激光束照射樣品顆粒時(shí)，顆粒會(huì)使激光產(chǎn)生散射，散射光的強(qiáng)度與角度分布與顆粒大小密切相關(guān)。大顆粒產(chǎn)生前向小角度散射且光強(qiáng)較強(qiáng)，小顆粒則使光散射至更廣泛角度且光強(qiáng)較弱。通過高靈敏度光電探測(cè)器陣列捕獲不同角度的散射光信號(hào)，結(jié)合全Mie散射理論進(jìn)行復(fù)雜計(jì)算，儀器可精確反演出顆粒的粒度分布數(shù)據(jù)。激光粒度分布儀的安裝步驟：1、安裝前準(zhǔn)備人員要求：確保安裝...